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安捷特--XRF鍍層測(cè)厚儀 STARK系列

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一、功能：

1、采用X射線熒光光譜法：無(wú)損測(cè)量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測(cè)量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

2、鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見(jiàn)的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

3、可測(cè)量厚度范圍：Ti鈦—U鈾

4、鍍層層數(shù)：多至5層。

5、測(cè)量點(diǎn)尺寸：圓形測(cè)量點(diǎn)，直徑約0.2-0.8毫米。

6、測(cè)量時(shí)間：通常60秒-180秒。

7、樣品max尺寸：330 x 200 x 170 mm (長(zhǎng)x寬x高)。

8、測(cè)量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

9、可測(cè)厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。

10、同時(shí)定量測(cè)量8個(gè)元素。

11、定性鑒定材料達(dá)20個(gè)元素。

STARK系列參數(shù)

MODEL

STARK

X射線光管

微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸約 0.2-0.8 mm ，

高壓管

50千伏（1.2毫安、60W瓦）可根據(jù)軟件控制優(yōu)化

探測(cè)器

高分辨正比氣體計(jì)數(shù)器

準(zhǔn)直器

單一固定準(zhǔn)直器直徑0.3毫米或0.5毫米

攝像頭

20倍放大自動(dòng)對(duì)焦高清CCD彩色攝像頭

樣品倉(cāng)

330 X 200 X 170 mm(W X D X H)

樣品臺(tái)

固定平臺(tái)

電源

230 VAC， 50—60 Hz,120W/100W

儀器尺寸

350 X 450 X 310 mm(W X D X H)

儀器重量

32KG

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