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FEI 掃描電子顯微鏡 Quanta SEM 材料科學(xué)應(yīng)用

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Quanta SEM 材料科學(xué)應(yīng)用

一種高級(jí)、靈活且經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的適用于多種材料表征的平臺(tái)

Quanta 標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境 SEM (ESEM) 功能可以提供額外的能力,用于處理電子顯微技術(shù)無(wú)法處理的樣品和應(yīng)用,同時(shí)協(xié)助預(yù)測(cè)長(zhǎng)期的材料性能。Quanta 的 ESEM 支持原位、動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn),可以使很多材料研究成為可能:

  • 對(duì)水化物樣品成像。
  • 潮濕或熱循環(huán)期間的結(jié)晶或相變。
  • 懸浮或自組裝過(guò)程中的粒子。
  • 金屬腐蝕。
  • 拉伸試驗(yàn)(根據(jù)需要加熱或冷卻)。


有利于動(dòng)態(tài)原位 實(shí)驗(yàn)的多功能性

Quanta 自身的多功能性使之非常適合用于材料科學(xué)。它善于執(zhí)行傳統(tǒng)高分辨率 SEM 成像/分析,在動(dòng)態(tài)原位 實(shí)驗(yàn)方面同樣游刃有余。

  • 氧化/腐蝕樣品
  • 陶瓷材料、復(fù)合材料、塑料
  • 薄膜和涂層
  • 軟材料:聚合物、藥物、凝膠
  • 顆粒物、多孔材料、纖維


一系列多功能、高性能儀器

Quanta 系列包括:

  • Quanta 250 和 Quanta 250 FEG
  • Quanta 450 和 Quanta 450 FEG
  • Quanta 650 和 Quanta 650 FEG 

Quanta 掃描電子顯微鏡具有三種模式(高真空、低真空和 ESEM),能夠處理的樣品類(lèi)型堪稱(chēng) SEM 系統(tǒng)。所有 Quanta SEM 系統(tǒng)均可配備分析系統(tǒng),比如能量色散譜儀、X 射線(xiàn)波長(zhǎng)色散譜儀以及電子背散射衍射系統(tǒng)。此外,場(chǎng)發(fā)射電子槍 (FEG) 系統(tǒng)含有一個(gè)用于明場(chǎng)和暗場(chǎng)樣品成像的 S/TEM 檢測(cè)器。SEM 系統(tǒng)中的另一個(gè)可變配置是電動(dòng)載物臺(tái)的尺寸(Quanta 250 為 50 mm、Quanta 450 為 100 mm、Quanta 650 為 150 mm)以及電動(dòng) Z 軸行程的大?。ǚ謩e為 25 mm、60 mm 和 65 mm)。Quanta 650 和 650 FEG 都設(shè)計(jì)了大標(biāo)本室,能夠分析和瀏覽大型標(biāo)本。




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