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掃描電化學(xué)顯微鏡（Bsae-SECM）

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主要功能及特點(diǎn)

Bsae-SECM 是一套致力于研究的掃描電化學(xué)顯微鏡。Base-SECM 標(biāo)準(zhǔn)配置的功能已然十分強(qiáng)大，能滿足大多數(shù)研究的需要。在這基礎(chǔ)上，用戶還可以購置不同的功能模塊，以滿足特殊的研究需要。

主要技術(shù)參數(shù)

定位系統(tǒng)：XYZ 步進(jìn)控制系統(tǒng)

動(dòng)態(tài)范圍：25x25x25 mm（其他范圍可選）

大線掃速率：10mm/s

分辨率：20nm

掃描模式

  • Feedback Mode 反饋模式
  • GC Mode 產(chǎn)生收集模式
  • Direct Mode 直接模式
  • AC-SECM 微區(qū)阻抗模式
  • 4D 模式
  • Shearforce剪切力模式

探針掃描：

  • 2D 掃描
  • 3D 掃描
  • 等間距掃描
  • 快速等間距掃描
  • 預(yù)設(shè)掃描
  • 自編輯電化學(xué)程序掃描

應(yīng)用領(lǐng)域

  • 電化學(xué)動(dòng)力學(xué)研究
  • 吸附/脫附現(xiàn)象和溶解過程的研究
  • 液/液界面，液/氣界面，液/固界面以及重要的生物過程
  • 局部腐蝕過程觀測(cè)
  • 催化劑活性評(píng)價(jià)
  • 傳感器表面活性成像
  • 局部阻抗分析
  • 生物膜酶活性研究
  • 微納米尺度的金屬顆粒沉積(恒電流或無電沉積)
  • 在水或有機(jī)溶液中材料表面上導(dǎo)電聚合物局部沉積
  • 電化學(xué)刻蝕