Scios 材料科學應用

用于形態(tài)學、化學和晶體學分析的高通量三維表征

Scios? DualBeam 可對金屬、復合材料和涂層等各種材料提供出色的二維和三維性能。Scios 能夠對包括磁性樣品在內的各種類型的樣品得到高分辨高對比度的圖像Scios 能夠同時得到樣品的成分，形貌以及邊緣襯度，從而分析材料性能。并且不需要準備，它就可以在特定位置，甚至是絕緣材料上，制作切片。創(chuàng)新功能讓 FEI 的 Scios DualBeam 可以生成三維數據立方體，以確定金屬中夾雜物的大小和分布，或分析裂紋尖端各個方向的應力和應變。此外，您可以使用 Scios 迅速可靠地制備 S/TEM、EBSD 或原子探針應用中的高質量樣品。

檢測技術是 FEI Scios 的核心技術。透鏡內 FEI Trinity? 檢測技術能夠同時收集所有信號，既節(jié)省了時間還能形成鮮明的對比度，從而有助于采集盡可能多的數據。創(chuàng)新的透鏡下同心反散射檢測器能提高效率，使您可以根據信號的角分布選擇信號，從而輕松分離材料和形態(tài)對比度，即使著陸能量為 20 eV 也是如此。

處理各種樣品的出色二維和三維性能

FEI Scios 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適于學院、政府和工業(yè)研究環(huán)境中的納米量級研究與分析。利用的《用戶指南》和 DualBeam 常見應用的分步工作流程。

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