Talos F200X 材料科學應用

速度200 kV FEG STEM，實現(xiàn)多維度化學分析

FEI Talos F200X 掃描/透射電子顯微鏡融合了高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能與能量色散 X 射線光譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能。Talos F200X 可在所有維度 (1D-4D) 下實現(xiàn)快速、精確的 EDS 分析，支持快速導航的動態(tài)顯微鏡 HRTEM 成像。與此同時，F(xiàn)EI Talos F200X 還提供高的穩(wěn)定性和長正常運行時間。

STEM 成像分辨率和通量

FEI Talos F200X STEM 可以實現(xiàn)快速、準確且量化的多維納米材料表征。FEI Talos F200X 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，適于學院、政府和工業(yè)研究環(huán)境中的研究與分析。

配件

NanoEx-i/v TEM 夾持器

FEI 的全新樣品加熱和偏置夾持器將擴展您的顯微鏡的功能。對于各種應用領域內(nèi)需要原位加熱納米材料的精密實驗（例如對納米量退火行為、金屬相變、催化劑納米系統(tǒng)的結構改變與燒結現(xiàn)象、淬火、偏析/擴散現(xiàn)象等的研究），

更多詳細資料可來電咨詢，服務熱線：400-600-6053！

應用示例：采用 Talos 的自動三維 EDS

FIB 制備的電池陽極材料
車輛老化汽車催化劑
納米管
“核-殼”納米顆粒