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FEI DualBeam 顯微鏡 Scios 材料科學(xué)應(yīng)用

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Scios 材料科學(xué)應(yīng)用

用于形態(tài)學(xué)、化學(xué)和晶體學(xué)分析的高通量三維表征

Scios? DualBeam 可對金屬、復(fù)合材料和涂層等各種材料提供出色的二維和三維性能。Scios 能夠?qū)Πù判詷悠吩趦?nèi)的各種類型的樣品得到高分辨高對比度的圖像Scios 能夠同時得到樣品的成分，形貌以及邊緣襯度，從而分析材料性能。并且不需要準(zhǔn)備，它就可以在特定位置，甚至是絕緣材料上，制作切片。創(chuàng)新功能讓 FEI 的 Scios DualBeam 可以生成三維數(shù)據(jù)立方體，以確定金屬中夾雜物的大小和分布，或分析裂紋尖端各個方向的應(yīng)力和應(yīng)變。此外，您可以使用 Scios 迅速可靠地制備 S/TEM、EBSD 或原子探針應(yīng)用中的高質(zhì)量樣品。

檢測技術(shù)是 FEI Scios 的核心技術(shù)。透鏡內(nèi) FEI Trinity? 檢測技術(shù)能夠同時收集所有信號，既節(jié)省了時間還能形成鮮明的對比度，從而有助于采集盡可能多的數(shù)據(jù)。創(chuàng)新的透鏡下同心反散射檢測器能提高效率，使您可以根據(jù)信號的角分布選擇信號，從而輕松分離材料和形態(tài)對比度，即使著陸能量為 20 eV 也是如此。


處理各種樣品的出色二維和三維性能

FEI Scios 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適于學(xué)院、政府和工業(yè)研究環(huán)境中的納米量級研究與分析。利用的《用戶指南》和 DualBeam 常見應(yīng)用的分步工作流程。




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