主題：EPMA與SEM的異同及其在材料測試中的應(yīng)用
時間：2019年8月15日 14：00
主講人：趙同新 （島津上海分析中心應(yīng)用工程師 ）
內(nèi)容：微束分析儀器中比較有代表性的有電子探針EPMA和掃描電鏡SEM，它們在現(xiàn)代材料顯微分析領(lǐng)域中有著重要應(yīng)用。EPMA和SEM均使用電子束作為激發(fā)源，采集出射的電子信號進行微區(qū)形貌觀察，檢測激發(fā)的特征X射線，對微區(qū)進行成分分析。本報告以EPMA與SEM在原理、結(jié)構(gòu)上的異同進行講解，結(jié)合不同的材料對比測試展示這兩種儀器各自的功能特點。
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 島津EPMA-8050G電子探針